光纖OTDR測試的盲區(qū)是指什么？對測試會(huì)有何影響？在實(shí)際測試中對盲區(qū)如何處理？
光纖OTDR測試的盲區(qū)是指什么？對測試會(huì)有何影響？在實(shí)際測試中對盲區(qū)如何處理？
答：通常將諸如活動(dòng)連接器、機(jī)械接頭等特征點(diǎn)產(chǎn)生反射引起的OTDR接收端飽和而帶來的一系列“盲點(diǎn)”稱為盲區(qū)。
光纖中的盲區(qū)分為事件盲區(qū)和衰減盲區(qū)兩種：由于介入活動(dòng)連接器而引起反射峰，從反射峰的起始點(diǎn)到接收器飽和峰值之間的長度距離，被稱為事件盲區(qū)；光纖中由于介入活動(dòng)連接器引起反射峰，從反射峰的起始點(diǎn)到可識(shí)別其他事件點(diǎn)之間的距離，被稱為衰減盲區(qū)。
對于OTDR來說，盲區(qū)越小越好。盲區(qū)會(huì)隨著脈沖展寬的寬度的增加而增大，增加脈沖寬度雖然增加了測量長度，但也增大了測量盲區(qū)，所以，在測試光纖時(shí)，對OTDR附件的光纖和相鄰事件點(diǎn)的測量要使用窄脈沖，而對光纖遠(yuǎn)端進(jìn)行測量時(shí)要使用寬脈沖。
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